8分鐘前 宿遷粗糙度檢測(cè)設(shè)備免費(fèi)咨詢 蘇州特斯特[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：超聲掃描顯微鏡 新一代的超聲測(cè)試設(shè)備,可在生產(chǎn)線中用手工掃描方法來(lái)檢測(cè)器件的缺陷等。該設(shè)備可利用不同材料對(duì)超聲波聲阻抗不同，對(duì)聲波的吸收和反射程度不同，來(lái)探測(cè)半導(dǎo)體、元器件的結(jié)構(gòu)、缺陷、對(duì)材料做定性分析。先進(jìn)的聲學(xué)顯微成像（ AMI ）的技術(shù)是諸多行業(yè)領(lǐng)域在各類樣品中檢查和尋找瑕疵的重要手段。在檢查材料本身或粘結(jié)層之間必須保持完整的樣品時(shí)，這項(xiàng)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)尤為突出。超高頻超聲檢查可以比其他任何方法都更有效地檢測(cè)出脫層，裂縫，空洞和孔隙。

超聲波掃描顯微鏡原理；通過(guò)發(fā)射高頻超聲波傳遞到樣品內(nèi)部，在經(jīng)過(guò)兩種不同材質(zhì)之間界面時(shí)，由于不同材質(zhì)的聲阻抗不同，對(duì)聲波的吸收和反射程度的不同，進(jìn)而的反射或者穿透的超聲波能量信息或者相位信息的變化來(lái)檢查樣品內(nèi)部出現(xiàn)的分層、裂縫或者空洞等缺陷。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。設(shè)備主要來(lái)自于歐美日等先進(jìn)測(cè)試設(shè)備制造國(guó)家。

EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測(cè)各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點(diǎn)(Hot Spot 或找亮點(diǎn))位置，進(jìn)而得知缺陷原因，幫助后續(xù)進(jìn)一步的失效分析。

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)--SAM將scanning acoustic microscope(SAM)用于IC的封裝掃描檢測(cè)，可以在不損傷封裝的情況發(fā)現(xiàn)封裝的內(nèi)部缺陷。由于在很多時(shí)候不能打開(kāi)封裝來(lái)檢查，即使打開(kāi)很可能原來(lái)的缺陷已經(jīng)被破壞。利用超聲波的透射、反射特性可以很好解決這個(gè)問(wèn)題。超聲波在不同介質(zhì)中的傳播速率不同。