將光源變成平行光后直接照射在安裝于兩維轉臺上的漫反射板上,利用帶有干涉濾光片的探測器測量漫反射板的反射光,轉動兩維轉臺,即可獲得干涉濾光片透射波長的漫反射板角反射率特性。該裝置的優點是結構簡單,雜散光影響較小;缺點是測量波長受干涉濾光片透射中心波長的限制,每次只能進行單一光譜波長漫反射板角反射特性的測量。即使采用多個探測器也只能進行少數幾個分離波長的測量,而且這也加重了轉動部件的重量,使測量系統變得復雜。
利用漫反射板 BRDF 測量裝置測量,這類裝置的工作原理是將連續光源發出的光經聚光鏡聚焦到單色儀的入射狹縫上,單色儀將連續光源發出的光分光,從單色儀出射狹縫的輸出即為所要求光譜分辨率的單色光,此單色光經準直光學部件準直后變成平行光照射在安裝于兩維轉臺上的待測漫反射板上,同樣由兩維轉臺的轉動,即可獲得單色儀輸出波長漫反射板的角反射特性。掃描單色儀的色散元件,可改變單色儀輸出波長,從而可獲得設計光譜范圍內漫反射板的雙向反射函數分布函數。該方法的優點是克服了上述方法只能進行單波長測量的缺點,可以獲得較寬光譜范圍內不同波長的角譜反射特性。缺點是光源經過分光、多次反射和折射變成平行光照射在漫反射板上,已經變得很微弱,必須對照射在漫反射板上的雜散光嚴格控制。這增加了系統的復雜性;否則由于外部雜散光的干擾,將會大大降低測量精度。
漫反射率是表征目標光學特性的重要參數之一,測量方法包括測量法和相對測量法。根據漫反射率測量原理,使用激光微能量計測量入射光和漫反射光能量,以 Lab VIEW 作為數據接收處理平臺開發了漫反射率自動測量系統,實現了漫反射率的自動化測量、控制及數據處理存儲功能。標準漫反射灰板
目標反射特性在目標識別、目標測距測速以及引信探測等各個領域中有著重要意義,而漫反射率是表征建筑、人體以及車輛等常見探測目標反射特性的關鍵參數。標準漫反射灰板
廣州景頤光電科技有限公司-漫反射板,是廣州較好的漫反射板生產廠家
對于任何已知的物質,Spectralon?漫反射標準板都能給出非常高的漫反射比值。這類耐用、具有化學惰性的標準板的典型反射比值從2%至99%不等,且在紫外-可見-近紅外(UV-VIS-NIR)光譜區內光譜平坦。所有Spectralon?材料在250 - 2500 nm的波長范圍內的光學平面度達+/- 4%,該值在光譜的適光范圍內為+/- 1%。
Spectralon?漫反射標準板具有高朗伯特性,其中Spectralon?SRM-99反射材料是在250 -2500 nm的波長范圍內的朗伯特反射體。標準漫反射灰板
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所有的漫反射比值校準測試都在景頤光電(Labsphere)的反射光譜實驗室進行。這類測試所使用的參考白板可直接溯源至美國與技術研究院(NIST)。
Spectralon?漫反射標準板可單獨或以套裝形式供應,后者由一塊標準漫反射白板及精選的標準漫反射灰板組成。對于每塊標準板,我們附帶提供在250 - 2500的波長范圍內每隔50 nm的完整漫反射比數據。所有標準板都儲藏在帶保護性蓋子的耐用型聚甲醛樹脂制容器內。標準漫反射灰板