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江蘇超聲波無(wú)損檢測(cè)免費(fèi)咨詢「多圖」哩組詞兩個(gè)字

   日期:2023-10-05     作者:蘇州特斯特    瀏覽:49    評(píng)論:0    
核心提示:6分鐘前 江蘇超聲波無(wú)損檢測(cè)免費(fèi)咨詢「多圖」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容:超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè): 半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片
6分鐘前 江蘇超聲波無(wú)損檢測(cè)免費(fèi)咨詢「多圖」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容:

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè): 半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等; 材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;生物醫(yī)學(xué):細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等。 超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式:基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的。反射模式是主要的工作模式,它的特點(diǎn)是分辨率高,對(duì)待測(cè)樣品厚度的沒(méi)有限制。透射模式只在半導(dǎo)體企業(yè)中用作器件篩選。

EMMI (Emission Microscopy)是用來(lái)做故障點(diǎn)定位、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測(cè)器,可偵測(cè)組件中電子-電洞再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光子,其光波長(zhǎng)在 350 nm ~ 1100 nm,此范圍相當(dāng)于可見(jiàn)光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類(lèi)測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷(xiāo)售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。

EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是常用漏電流路徑分析手段。對(duì)于故障分析而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs)Recombination會(huì)放出光子(Photon)。如在P-N結(jié)加偏壓,此時(shí)N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱,而P的空穴也容易擴(kuò)散至N,然后與P端的空穴(或N端的電子)做EHP Recombination。在故障點(diǎn)定位、尋找近紅外波段發(fā)光點(diǎn)等方面,微光顯微鏡可分析P-N接面漏電;P-N接面崩潰;飽和區(qū)晶體管的熱電子;氧化層漏電生的光子激發(fā);Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問(wèn)題.

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