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SF6充氣柜真空箱測漏設備服務至上「科儀創新真空」餃子怎么畫

   日期:2024-01-02     作者:科儀創新真空    瀏覽:36    評論:0    
核心提示:6分鐘前 SF6充氣柜真空箱測漏設備服務至上「科儀創新真空」[科儀創新真空55640b8]內容:氦質譜檢漏儀氦質譜檢漏技術是真空檢漏領域里不可缺少的一種技術,由于檢漏,簡便易操作,儀器反應靈敏,精度高
6分鐘前 SF6充氣柜真空箱測漏設備服務至上「科儀創新真空」[科儀創新真空55640b8]內容:

氦質譜檢漏儀

氦質譜檢漏技術是真空檢漏領域里不可缺少的一種技術,由于檢漏,簡便易操作,儀器反應靈敏,精度高,不易受其他氣體的干擾,在電阻爐檢漏中得到了廣泛應用。氦質譜檢漏儀是根據質譜學原理,用氦氣作示漏氣體制成的氣密性檢測儀器。氦質譜檢漏儀的基本原理與結構氦質譜檢漏儀一般由質譜管,真空系統和電子系統組成。由離子源、分析器、收集器、冷陰極電離規組成的質譜室和抽氣系統及電氣部分等組成。質譜室里的燈絲發射出來的電子,在室內來回地振蕩,并與室內氣體和經漏孔進人室內的氦氣相互碰撞使其電離成正離子,這些氦離子在加速電場作用下進人磁場,由于洛倫茲力作用產生偏轉,形成圓弧形軌道,改變加速電壓可使不同質量的離子通過磁場和接收縫到達接收極而被檢測。噴氦法、吸氦法是氦質譜檢漏儀在電阻爐檢漏中常用的兩種方法。

今天和大家分享的是氦質譜檢漏儀的操作方法,希望對大家有所幫助!

氦質譜檢漏儀的校準方法

(1) 漏率校準① 校準系統的組成

校準系統由標準漏孔、截止閥及需校準的氦質譜檢漏儀組成。

②示值誤差

通電預熱,待氦質譜檢漏儀啟動完成后,采用標準漏孔對氦質譜檢漏儀進行校準,將一經過校準的標準漏孔接入氦質譜檢漏儀系統,運行氦質譜檢漏儀,待漏率示值穩定后,可以讀出標準漏孔漏率的氦質譜檢漏儀示值,同一標準漏孔測量三次,計算氦質譜檢漏儀示值平均值,從而得到標準漏孔漏率與氦質譜檢漏儀示值平均值的示值誤差。05Pa以下),適合檢大型容器或有大漏的器件,也適合吸槍檢漏。結束后,將其他量級的標準漏孔依次按此方法接入氦質譜檢漏儀系統進行測試,得到氦質譜檢漏儀在每一量級下漏率的示值誤差。

如果測試結果有較大編差,可以考慮氦質譜檢漏儀的自校功能,待完成后,再用標準漏孔進行測試。

③ 重復性

測量重復性是用實驗標準偏差表征的,本校準方法采用極差法來表征重復性。在示值誤差測量中,每一標準漏孔用氦質譜檢漏儀重復測量三次,可用公式(2)計算氦質譜檢漏儀在該漏率下的重復性。

今天和大家分享的是氦質譜檢漏儀的校準方法,如您想了解更多的產品信息,您可撥打圖片上的電話進行咨詢!

真空箱法氦質譜檢漏的原理與系統特點

真空箱法氦質譜檢漏的充氣回收檢漏系統

1.配置與氣路控制

真空箱:一般為雙工位,兩個不銹鋼真空箱,開門裝置可采用液壓方式,或加配重的手動方式。

工件抽空系統:低真空泵及閥門,低真空測量充氮與回收系統:氦氣儲存罐(高壓罐),氦氣回收取罐(低壓罐),主壓縮機,輔壓縮機,過濾器以及一些高壓閥和真空閥門等。

真空箱抽氣系統:為自動控制型,由面板、PLC系統(可編程邏輯控制器),充氦回收系統,真空箱抽氣系統的電路部分以及為自動檢漏過程提供參考信號的壓力傳感器和熱偶計,同時,實施對整個系統的工作控制,對檢漏過程和結果顯示。

2.系統檢測過程

1)、通過v1、V4,泵系統對工件和真空箱抽真空,如果限定的時間內抽到限定的真空度,此時,電氣控制系統關閉V1,打開V2

2)、充氦系統通過V2對工件進行充氦至核定的壓力,穩定,關閉V2

3)、關閉V4,打開V3、V5,處在正常工作狀態待命的氦質譜檢漏儀進行檢漏,如果不漏,電氣控制系統指揮關斷V3、V5,打開V2對氦氣進行回收。

4)、關閉V2打開V6對真空箱放氣,開啟真空箱更換工件。

5)、如果第三點檢漏儀檢測到超過設定值(漏率)的工件,檢漏儀聲光報警,將:工作內的氦氣回收,對真空箱和管道巾的氦氣通過清潔泵抽除,免得影響檢漏儀的檢測效果和不污染檢漏儀。

6)、維持泵有一定的氦分流作用,不宜過大(不超過41),清潔泵也同樣。

本產品信息由科儀提供,如果您想了解更多您可撥打圖片上的電話進行咨詢,科儀竭誠為您服務!

背壓法氦質譜檢漏

采用背壓法檢漏時,首先將被檢產品置于高壓的氦氣室中,浸泡數小時或數天,如果被檢產品表面有漏孔,氦氣便通過漏孔壓入被檢產品內部密封腔中,使內部密封腔中氦分壓力上升。此款氦質譜檢漏儀堅固耐用,抗震性能極強,可反復使用數年仍保證高精度的檢漏漏率。然后取出被檢產品,將表面的殘余氦氣吹除后再將被檢產品放入與檢漏儀相連的真空容器內,被檢產品內部密封腔內的氦氣會通過漏孔泄漏到真空容器,再進入氦質譜檢漏儀,從而實現被檢產品總漏率測量。檢漏儀給出的漏率值為測量漏率,需要通過換算公式計算出被檢產品的等效標準漏率。

背壓法的優點是檢測靈敏度高,能實現小型密封容器產品的泄漏檢測,可以進行批量化檢測。

背壓法的缺點是不能進行大型密封容器的漏,否則由于密封腔體容積太大,導致加壓時間太長。此外,每個測量漏率都對應兩個等效標準漏率,在細檢完成后還需要采用其它方法進行粗檢,排除大漏的可能。

背壓法的檢漏主要應用于各種電子元器件產品檢漏。

原文鏈接:http://m.sdhdhj.com/news/52611.html,轉載和復制請保留此鏈接。
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