4分鐘前 EMMI顯微鏡詢問報價「多圖」[蘇州特斯特31ff5f9]內容：

自動聚焦顯微鏡的研究在高倍率顯微圖像的處理過程中,自動聚焦具有重要意義。本文對動態自動聚焦顯微鏡的清晰度自動檢測系統和高精度位置隨動系統進行了分析,提出了理想的清晰度檢測方法評價參數的特征,敘述了微分峰值檢測法的原理、實驗結果、 控制系統的設計和整機性能評價。如有您需要訂購，歡迎來電咨詢我們公司，為您提供詳細介紹！

超聲波顯微鏡是通過像素pixel進行體現，然而光學鏡卻以CCD攝像頭為主，也正因為結構上的差異，所以超聲波掃描顯微鏡的價格是普通工顯鏡的數倍，不僅如此，它們的應用領域也有著極大的差距，超聲波掃描顯微鏡幾乎囊括了光學顯微鏡的所有領域，而且它尤其在材料半導體行業應用更廣。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務，產品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。

對于故障分析而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會放出光子(Photon)。舉例說明：在P-N 結加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N然後與P端的空穴（或N端的電子）做 EHP Recombination。

芯片失效分析步驟:

1、非破壞性分析：主要是超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）--看有沒delamination，xray--看內部結構，等等；

2、電測：主要工具，萬用表，示波器， tek370a

3、破壞性分析：機械decap，化學 decap芯片開封機

4、半導體器件芯片失效分析 芯片內部分析，孔洞氣泡失效分析。

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