能譜儀適用范圍介紹

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無(wú)機(jī)或有機(jī)固體材料分析；

2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；

3、可對(duì)固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測(cè)；

4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域；5、進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點(diǎn)分布分析。

伽瑪能譜儀

放射性核素比活度測(cè)量用多道伽瑪能譜儀分析。能譜儀要用標(biāo)準(zhǔn)源（多能量峰或者混合源）進(jìn)行能量和效率刻度，刻度源體積、形狀和待測(cè)樣品一致。必要時(shí)，效率刻度要符合相加、自吸收等校正。

能譜儀是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。各種元素具有自己的X射線特征波長(zhǎng)，特征波長(zhǎng)的大小則取決于能級(jí)躍遷過(guò)程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來(lái)進(jìn)行成分分析的。

低本底多道γ能譜儀特點(diǎn)

數(shù)據(jù)通過(guò)率:>333Kcps,可用于低、中、高各種活度放射性樣品分析;具有示波器顯示功能,可直接觀察信號(hào)波形,測(cè)量期間可進(jìn)行基線監(jiān)測(cè):測(cè)量期間可直讀計(jì)數(shù)率 (cps)，直接快速判別樣品放射性強(qiáng)度;具有峰位監(jiān)測(cè)功能,保證數(shù)據(jù)采集質(zhì)量;

綜合分析解譜、檢驗(yàn):具有多譜線對(duì)比功能,可用于科研、教學(xué)及技術(shù)培訓(xùn)等;具有粉末樣品測(cè)量、無(wú)損樣品測(cè)量、空氣氛測(cè)量及土壤氨測(cè)量四大功能;可配備于鈾的能譜分析軟件，實(shí)現(xiàn)用單一 NaI 探測(cè)器直接獲取鈾、鐳針、鉀含量數(shù)據(jù)。