5分鐘前 EMMI顯微鏡服務(wù)介紹 特斯特[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：雖然超聲波掃描顯微鏡與普通的光學(xué)顯微鏡有著諸多的不同點(diǎn)，但是它們也各司其職，并無優(yōu)劣之分，在不同領(lǐng)域只需要根據(jù)使用情況酌情選擇即可，由于超聲波掃描顯微鏡在線下較為少見，因此許多企業(yè)對(duì)于該種顯微鏡理解上具有局限性，所以要增加對(duì)超聲波掃描顯微鏡的詳情了解。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。設(shè)備主要來自于歐美日等先進(jìn)測試設(shè)備制造國家。

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè)： 半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等； 材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；生物醫(yī)學(xué)：細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等。 超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式：基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的。反射模式是主要的工作模式，它的特點(diǎn)是分辨率高，對(duì)待測樣品厚度的沒有限制。透射模式只在半導(dǎo)體企業(yè)中用作器件篩選。

EMMI偵測的到亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)情況；原來就會(huì)有的亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)飽和區(qū)操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)動(dòng)態(tài)式CMOS (Dynamic CMOS)二極管順向與逆向偏壓崩潰 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)偵測不到亮點(diǎn)情況不會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)的故障奧姆或金屬的短路(Ohmic Short / metal Short)亮點(diǎn)被遮蔽之情況埋入式接面的漏電區(qū)(Buried Juncti)金屬線底下的漏電區(qū)(Leakage Sites Under metal)

半導(dǎo)體常用失效分析檢測儀器;

顯微鏡分析OM無損檢測

金相顯微鏡OM：可用來進(jìn)行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，結(jié)構(gòu)，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計(jì)算機(jī)（數(shù)碼相機(jī)）通過光電轉(zhuǎn)換有機(jī)的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計(jì)算機(jī)（數(shù)碼相機(jī)）顯示屏幕上觀察實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。金相顯微鏡可供研究單位、冶金、機(jī)械制造工廠以及高等工業(yè)院校進(jìn)行金屬學(xué)與熱處理、金屬物理學(xué)、煉鋼與鑄造過程等金相試驗(yàn)研究之用，實(shí)現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測 、制備樣片的金相顯微分析和各種缺陷的查找等功能。