對比試樣校準(zhǔn)示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定？

致使涂層測厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測厚儀，假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測厚儀。再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，測厚儀的探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時，所運(yùn)用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。如感受測量成果差錯比較大時，請先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測驗(yàn)，如違背答應(yīng)差錯較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。在體系校按時沒有挑選適宜的基體。基體平面為7mm，小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

對比試樣校準(zhǔn)測量方法

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中有五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有射線源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

對比試樣校準(zhǔn)探頭選擇

超聲波測厚儀探頭根據(jù)性能和直徑分類主要有7MHz/φ6mm探頭、5MHz/φ10mm探頭、2.5MHz/φ14mm探頭、5MHz/φ8mm使用某一探頭前應(yīng)先在儀器上選擇對應(yīng)的探頭按“ENTER”或“確認(rèn)”鍵保存，下次開機(jī)時，探頭為本次選擇的探頭。為保證儀器精度和穩(wěn)定性，建議不要互換探頭。儀器使用后，應(yīng)擦去探頭及儀器上的耦合劑和污垢。