對比試樣校準測量前的準備

1. 對比試樣的人工缺陷應(yīng)使用酒精或C?H?O進行清洗，用濾紙擦干，保持表面清潔，無銹蝕、金屬屑、毛刺、污染物等影響測量的缺陷。

2. 將對比試樣人工缺陷平行放置在載物臺上(必要時使用合適的工裝予以固定)，調(diào)整試樣，使人工槽長度或?qū)挾确较蚺c顯微測量設(shè)備的X或Y軸平行。

3. 顯微鏡在合適的明場條件下，先用低放大倍數(shù)（10×或20×）找到人工缺陷位置，再換至高放大倍數(shù)對試樣聚焦，調(diào)整載物臺及試樣，使人工缺陷處于視場中央。 調(diào)整測量設(shè)備，使測量面聚焦清晰，選擇測量點位。

對比試樣校準介紹

用來在線測 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng)，以實現(xiàn)對板帶厚度的自動厚度控制（AGC）。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側(cè)。設(shè)計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時間。

對比試樣校準分類

1.超聲波-在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時會被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用較廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，較大測定厚度達2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2.磁性-在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

對比試樣校準類型

1.渦流-當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流所產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素-利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。