x射線發(fā)生裝置簡(jiǎn)介

X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)，稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡(jiǎn)寫(xiě)為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡(jiǎn)寫(xiě)仍為XPD或XRD。

x射線發(fā)生裝置-涂層應(yīng)用

現(xiàn)代生活的每個(gè)環(huán)節(jié)都得益于涂層或薄膜技術(shù)。無(wú)論是集成電路芯片上的阻擋層薄膜還是鋁制飲料罐上的涂層，X射線是研發(fā)，產(chǎn)品過(guò)程控制和不可缺少的分析技術(shù)。作為納米技術(shù)研究，X射線衍射(XRD)和附屬技術(shù)被用于確定薄膜分子結(jié)構(gòu)的性質(zhì)。理學(xué)的技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為涂層和薄膜測(cè)量提供各種無(wú)損分析解決方案。

x射線發(fā)生裝置-地質(zhì),礦產(chǎn)

在研究行星進(jìn)程和地球構(gòu)造過(guò)程中，地理學(xué)家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術(shù)如：小點(diǎn)激發(fā)，分布分析和無(wú)標(biāo)定量分析，日漸成為地質(zhì)研究及礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器。X射線衍射儀(XRD)可定量測(cè)量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被認(rèn)為是晶體相定量分析適合的方法。技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為這些判定提供了一系列解決方案。