5分鐘前 精細研磨設備價格免費咨詢「蘇州特斯特」[蘇州特斯特31ff5f9]內容：微光顯微鏡是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2016年04月16日啟用。前部照明的1.4兆像素增強型近紅外相機; 珀爾貼風冷到 -45攝氏度 可捕更廣范圍波長的近紅外光顯微鏡 軟件控制5波段照明。主要功能編輯 語音l 柵氧化層漏電l p-n 結漏電l 熱電子效應l CMOS閂鎖效應l EOS/ESD 損傷l 飽和MOS器件l 模擬MOSFETs。

自動聚焦顯微鏡的研究在高倍率顯微圖像的處理過程中,自動聚焦具有重要意義。本文對動態(tài)自動聚焦顯微鏡的清晰度自動檢測系統(tǒng)和高精度位置隨動系統(tǒng)進行了分析,提出了理想的清晰度檢測方法評價參數(shù)的特征,敘述了微分峰值檢測法的原理、實驗結果、 控制系統(tǒng)的設計和整機性能評價。如有您需要訂購，歡迎來電咨詢我們公司，為您提供詳細介紹！

超聲波掃描顯微鏡，英文名是：Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也簡稱：C-SAM或SAT。北軟檢測SAT頻率高于20KHz的聲波被稱為超聲波。超聲波掃描顯微鏡是理想的無損檢測方式，廣泛的應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領域。檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過圖像對比度判別材料內部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。

EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發(fā)光點等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區(qū)晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發(fā)；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.